對于分析工作者,要懂得儀器的日常維護和對主要技術(shù)指標的簡易測試方法,要經(jīng)常對儀器各項性能指標逐項進行檢查、校正 ,進行維護和測試,以保證儀器工作在最佳狀態(tài)。下面介紹紫外可見分光光度計的主要性能指標及其測試方法。

   波長校正：由于波長誤差可以使定量分析造成誤差,可以使定性分析或結(jié)構(gòu)分析判斷錯誤,以致于得出錯誤結(jié)論,所以,在儀器安裝完畢后要進行波長檢查 ,在使用一般時間后也要進行檢查和校正,保證儀器的最大靈敏度。波長的測試有粗測和細測,粗測方法是調(diào)儀器波長旋紐至580nm處,打開遮光板,在比色槽中光路經(jīng)過處放一白紙條,觀察是否有均勻的黃光。細測方法常用譜釹濾光片校正法,可用鐠釹濾光片在529nm±1～2nm處有較好的吸收峰。在校正時,將儀器按要求預(yù)熱,波長度盤置580nm處,T%調(diào)至最大,在比色杯處放一白紙條,觀察是否有光強均勻、邊緣無光暈或雜光的光斑,如不符合要求,可調(diào)節(jié)燈泡位置使其符合要求,是為波長校正的粗調(diào)。再把 靈敏度置于“1”(最低檔), 波長度盤對準529nm,電表機械零點為零,在光路空白時調(diào)T%為100% T,并反復(fù)查零點和100%T穩(wěn)定情況。將譜釹濾光片插入光路,慢慢旋轉(zhuǎn)波長度盤,找到透光率最

低的一點,這一點即為波長529nm。檢查波長度盤的指示值是不是529nm ,超出規(guī)定(±1nm)必須進行調(diào)整。

   雜散光檢查：雜散光是由于光學(xué)元件制造誤差以及光學(xué)和機械零件表面的漫反射形成的。在吸光度測定中,雜散光是分析樣品的非吸收光,隨著樣品濃度的增加,雜散光的影響也隨之增大 ,將給分析結(jié)果帶來一定的誤差。因此,雜散光的大小也是儀器性能的一項重要指標。雜光的來源有:

   1、儀器本身的原因 ,如單色器的設(shè)計、光源的光譜分布、光學(xué)原件的老化程度、波帶寬度以及儀器內(nèi)部的反射及散射等；

   2、室內(nèi)光線過強而漏入儀器,儀器暗室蓋不嚴；

   3、樣品本身的原因,如樣品有無熒光、樣品的散射能力強弱等。

   鐠釹濾光片在 585nm處吸光度A最大,透光率T最小,所產(chǎn)生的透光與雜光成正比,因此可用其透光率表示雜光的大小。先用譜釹濾片校正波長,然后用黑紙片擋住比色杯光路之后調(diào)整0%T,再用空氣做空白調(diào)100%T。插入譜釹濾光片,在585nm處測定,其測定值為雜光水平。